Estudos das Propriedades Físicas de Óxidos e Semicondutores.

Abstract

O presente estudo tem por objetivo identificar as propriedades estruturais de nanopartículas de dióxido de Titânio utilizando a técnica de difração de raios-x. O material foi cedido pelo Grupo de Pesquisa Materiais Funcionais. Para isto, os seguintes objetivos específicos foram atendidos: foi realizada uma revisão bibliográfica sobre o semicondutor dióxido de Titânio, abordando suas fases polimórficas (anatase, rutilo e brookita), propriedades eletrônicas e aplicações em nanoescala. O trabalho envolveu treinamento em laboratório para a manipulação de material em escala nano e na preparação da amostra para uso nas diferentes técnicas de caracterização, e o acompanhamento na aquisição dos resultados no equipamento Difratômetro Xpert PRO MPD. O tratamento dos dados obtidos pela técnica de difração de raios-X incluiu a análise do difratograma para identificar a fase cristalina, que se revelou majoritariamente rutilo, e o cálculo do tamanho médio de cristalito (17,51 nm) e do grau de cristalinidade (72,05%) utilizando a equação de Scherrer e a razão entre as áreas dos picos. Foram utilizados os softwares Origin para a plotagem dos gráficos e GSAS-II para o refinamento de Rietveld na identificação e análise estrutural nos difratogramas obtidos.