Estudos das Propriedades Físicas de Óxidos e Semicondutores.
Autor:
Kuchla, Vitoria
Resumen:
O presente estudo tem por objetivo identificar as propriedades estruturais de
nanopartículas de dióxido de Titânio utilizando a técnica de difração de raios-x. O material foi
cedido pelo Grupo de Pesquisa Materiais Funcionais. Para isto, os seguintes objetivos
específicos foram atendidos: foi realizada uma revisão bibliográfica sobre o semicondutor
dióxido de Titânio, abordando suas fases polimórficas (anatase, rutilo e brookita), propriedades
eletrônicas e aplicações em nanoescala. O trabalho envolveu treinamento em laboratório para
a manipulação de material em escala nano e na preparação da amostra para uso nas diferentes
técnicas de caracterização, e o acompanhamento na aquisição dos resultados no equipamento
Difratômetro Xpert PRO MPD. O tratamento dos dados obtidos pela técnica de difração de
raios-X incluiu a análise do difratograma para identificar a fase cristalina, que se revelou
majoritariamente rutilo, e o cálculo do tamanho médio de cristalito (17,51 nm) e do grau de
cristalinidade (72,05%) utilizando a equação de Scherrer e a razão entre as áreas dos picos.
Foram utilizados os softwares Origin para a plotagem dos gráficos e GSAS-II para o
refinamento de Rietveld na identificação e análise estrutural nos difratogramas obtidos.
Descripción:
Seminário De Iniciação Científica e Tecnologica. Universidade Federal de Santa Catarina. Centro de Ciências Físicas e Matemáticas Departamento de Física.
