Development of a satellite radiation experiment for evaluating SDRAM memories in harsh environments

Abstract

Sistemas eletrônicos no contexto de aplicações espaciais requerem esforços adicionais quanto ao desempenho e confiabilidade em ambientes com alta radiação. Este trabalho propõe o desenvolvimento de uma plataforma capaz de avaliar os efeitos da radiação em três gerações diferentes de uma mesma memória dinâmica síncrona de acesso aleatório em laboratórios de teste e em missões espaciais reais. Os resultados são interessantes para caracterizar esses dispositivos para futuras aplicações espaciais e também a plataforma pode ser reutilizada como um sensor de radiação em futuras missões.

Electronics in the context of space applications require attention to performance and reliability under harsh radiation conditions. This work proposes the development of a platform capable of evaluating the radiation effects in three different generations of a same synchronous dynamic random-access memory in test facilities and in a real space mission. The results are interesting to characterize this devices for future space applications and the platform could be used as a radiation sensor in future missions.