Desenvolvimento de modelos do comportamento metrólogico estático de instrumentos de medição

Abstract

O presente trabalho teve como objetivo desenvolver um método para modelar o comportamento metrológico estático de instrumentos de medição. Esta atividade faz parte de um conjunto de trabalhos que vêm sendo executados junto ao Laboratório de Metrologia e Automatização da UFSC visando desenvolver um sistema de simulação de instrumentos de medição. A estrutura de um modelo geral proposto é formada pela característica de resposta nominal do instrumento e pelo encadeamento de módulos que contêm os modelos das características metrológicas estáticas geradas a partir de especificações de fabricantes. Para isso foi feito um estudo das principais características de instrumentos de medição, pesquisando-se literatura, normas, dados técnicos de fabricantes e folha de dados de instrumentos. De posse da sistematização desses dados, foi possível implementar o modelo de cada característica de forma modular, visando reduzir o esforço futuro para implementação do modelo de diferentes instrumentos. A partir do modelo geral de um instrumento, é possível criar instrumentos com valores específicos dentro dos limites especificados pelo fabricante. O processo de criação desses instrumentos utiliza a análise estatística dos valores especificados na folha de dados para cada parâmetro. Com o intuito de exemplificar a aplicação do modelo proposto, apresentou-se o modelo de quatro instrumentos: termistor, termorresistor, transdutor de pressão e amplificador de instrumentação. Esses modelos foram implementados utilizando-se a linguagem Labview.