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Title:
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Recomendações para a implementação de ensaios de estresse térmico voltados à confiabilidade de hardwares eletrônicos |
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Author:
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Luca, Luciana Veloso de
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Abstract:
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A crescente competição mercadológica mundial e o atual cenário da indústria eletrônica no qual os produtos tornam-se cada vez mais complexos e os índices de qualidade e confiabilidade cada vez mais apertados, apontam para uma situação na qual a necessidade da utilização de técnicas que auxiliem na construção da confiabilidade de um produto desde as primeiras fases do seu |
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Description:
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Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. |
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URI:
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http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/87341
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Date:
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2004 |
