| Title: | A influência da incerteza de medição na carta de controle de valores individuais |
| Author: | Silva, Janaína Helena Cardoso da |
| Description: | Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. |
| URI: | http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/86060 |
| Date: | 2003 |
| Files | Size | Format | View |
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| 197054.pdf | 1.056Mb |
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