Obtenção e avaliação das propriedades microscópicas e elétricas de Materiais Absorvedores de Radiação Eletromagnética constituídos de filmes finos - Parte 2

Abstract

Filmes finos de alumínio (Al) e titânio (Ti), com espessuras nominais de 50,8 e 50,9 nm, respectivamente, depositados sobre substratos flexíveis de poli(tereftalato de etileno) (PET), foram avaliados quanto à influência do tratamento térmico sobre suas propriedades elétricas, morfológicas, químicas e eletromagnéticas. Amostras distintas foram submetidas por 15 min às temperaturas de 80, 100, 120 e 140 °C. A caracterização foi realizada por medidas de quatro pontas, microscopia eletrônica de varredura associada à espectroscopia por dispersão de energia (MEV/EDS), espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) e medidas de atenuação em guia de ondas na banda X (8–12 GHz). O Al apresentou aumento predominantemente monotônico da resistência de folha, acompanhado por maior heterogeneidade e descontinuidades superficiais com o aumento da temperatura. O Ti apresentou comportamento elétrico fortemente não monotônico. As análises de XPS indicaram superfícies predominantemente oxidadas, enquanto a atenuação na banda X também variou de forma não monotônica. A análise conjunta dos resultados mostrou que a resposta eletromagnética não pode ser explicada apenas pela resistência de folha ou pela oxidação superficial, sendo necessário considerar de forma integrada a continuidade do filme, a conectividade elétrica lateral, a morfologia e o estado químico próximo à superfície. Os resultados reforçam o potencial desses sistemas ultrafinos e leves para aplicações como materiais absorvedores de radiação eletromagnética em tecnologia furtiva.