Low-cost impedance meter using a digital lock-in amplifier
Show simple item record
| dc.contributor |
Universidade Federal de Santa Catarina. |
pt_BR |
| dc.contributor.advisor |
Sousa, Fernando Rangel de |
|
| dc.contributor.author |
Camilo, Sofia Schneider |
|
| dc.date.accessioned |
2026-07-20T13:25:24Z |
|
| dc.date.available |
2026-07-20T13:25:24Z |
|
| dc.date.issued |
2026-07-16 |
|
| dc.identifier.uri |
https://repositorio.ufsc.br/handle/123456789/274498 |
|
| dc.description |
TCC (graduação) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico, Engenharia Eletrônica. |
pt_BR |
| dc.description.abstract |
A Tomografia por Impedância Elétrica (TIE) é uma técnica de imagem não invasiva
amplamente utilizada em aplicações biomédicas, como no monitoramento da ventilação
pulmonar e no imageamento de culturas celulares, porém sua aplicação é comumente
limitada pelo alto custo dos medidores de impedância necessários para seu funcionamento.
Para facilitar o acesso a esta tecnologia, este trabalho apresenta o desenvolvimento de
um medidor de impedância de baixo custo utilizando um microcontrolador. A solução
proposta utiliza o RP2040 em conjunto com um inovador algoritmo de amplificador
lock-in digital (LIA) baseado em subtração. Essa abordagem elimina a necessidade de
processadores de sinal digital (DSPs) caros ao substituir operações de ponto flutuante
por simples subtrações. O sistema foi validado experimentalmente medindo capacitâncias
na faixa de 2.2 nF a 47 μF, e comparando os resultados com um medidor LCR comercial
devidamente calibrado. Os resultados demonstraram um erro relativo mínimo de 1, 21%
na faixa de operação avaliada, com a maior precisão ocorrendo próximo ao ponto ideal
projetado teoricamente de 32 nF. Embora a prova de conceito tenha sido bem-sucedida, o
desempenho atual do dispositivo possui limitações em relação à resolução efetiva limitada
(ENOB de 8,7 bits) do conversor analógico-digital (ADC) do RP2040 e ao atraso de fase
na amostragem induzido pelo modo sequencial (round-robin). O trabalho conclui que, com
a implementação de um ADC dedicado e o aumento da frequência de referência utilizada
para o LIA, a arquitetura é altamente promissora para futuras aplicações na escala de
picofarads. |
pt_BR |
| dc.description.abstract |
Electrical Impedance Tomography (EIT) is a widely used noninvasive imaging technique
in biomedical applications, such as lung ventilation monitoring and cell culture imaging,
but its application is commonly hindered by the high cost of the impedance meters
required for its operation. To facilitate access to this technology, this work presents
the development of a low-cost impedance meter using a microcontroller. The proposed
solution utilizes the RP2040 alongside an innovative subtraction-based digital lock-in
amplifier (LIA) algorithm. This approach eliminates the need for expensive digital signal
processors (DSPs) by replacing floating-point operations with simple subtractions. The
system was experimentally validated by measuring capacitances ranging from 2.2 nF to
47 μF, and comparing the results with a properly calibrated commercial LCR meter. The
results demonstrated a minimum relative error of 1.21% across the evaluated operating
range, with the highest accuracy occurring near the theoretically projected optimal point
of 32 nF. Although the proof of concept was successful, the current performance of the
device has limitations regarding the limited effective resolution (8.7-bit ENOB) of the
RP2040’s analog-to-digital converter (ADC) and the sampling phase delay induced by
the sequential (round-robin) mode. The work concludes that, with the implementation
of a dedicated ADC and an increase in the reference frequency used for the LIA, the
architecture is highly promising for future applications on the picofarad scale. |
pt_BR |
| dc.format.extent |
37 f. |
pt_BR |
| dc.language.iso |
eng |
pt_BR |
| dc.publisher |
Florianópolis, SC. |
pt_BR |
| dc.rights |
Open Access. |
en |
| dc.subject |
Tomografia por impedância elétrica |
pt_BR |
| dc.subject |
Amplificador lock-in digital |
pt_BR |
| dc.subject |
RP2040 |
pt_BR |
| dc.subject |
Medição de capacitância |
pt_BR |
| dc.subject |
Sistemas embarcados |
pt_BR |
| dc.subject |
Electrical impedance tomography |
pt_BR |
| dc.subject |
Digital lock-in amplifier |
pt_BR |
| dc.subject |
Capacitance measurement |
pt_BR |
| dc.subject |
Embedded systems |
pt_BR |
| dc.title |
Low-cost impedance meter using a digital lock-in amplifier |
pt_BR |
| dc.type |
TCCgrad |
pt_BR |
Files in this item
This item appears in the following Collection(s)
Show simple item record
Search DSpace
Browse
-
All of DSpace
-
This Collection
My Account
Statistics
Compartilhar